アトリビュート

データベース

E-R図(概念設計) -情報処理シンプルまとめ

基本情報技術者試験など情報処理技術者試験を受験する方にとっては必須の,E-R図についてシンプルにまとめています。はじめに,概念設計の説明をして,それからE-R図の説明をしています。E-R図については,構成要素(エンティティ(実体),リレーションシップ(関連),アトリビュート(属性),カーディナリティ)やインスタンスの説明を行い,その後,カーディナリティ(1対1,1対多,多対多)について詳しく説明しています。難しく感じるかもしれませんが慣れだと思いますので,繰り返し,根気よく読んでマスターしましょう。
データベース

関係モデル(論理設計) -情報処理シンプルまとめ

基本情報技術者試験など情報処理技術者試験を受験する方にとっては必須の,関係モデル(リレーショナルモデル)についてシンプルにまとめています。はじめに,データベースの論理設計について説明し,次に,関係モデルについて,キー(候補キー,主キー,外部キー),関数従属(完全関数従属,部分関数従属,推移関数従属),正規化(第1正規化,第2正規化,第3正規化),関係演算・集合演算(和(UNION),積(INTERSECT),差(EXCEPT),直積,選択,射影,結合(内部結合,外部結合),商)を説明しています。少しややこしいかもしれませんが,基本情報技術者試験や応用情報技術者試験で,実際に出題される内容ですので避けてはとおれません。根気よく読んでみましょう。
システム開発技術

基本情報技術者試験 過去問(開発技術-システム開発技術) -情報処理シンプルまとめ

情報処理技術者試験(今のところは基本情報技術者試験)の過去問(開発技術-システム開発技術)を集めて,シンプルにまとめています。DFD,状態遷移図,E-R図,決定表,データ中心アプローチ(DOA),共通フレーム(妥当性確認プロセス),システム要件定義,システム方式設計,ソフトウェア要件定義(外部設計),ソフトウェア方式設計(内部設計),ソフトウェア詳細設計,チェックディジット,モジュール強度,モジュール結合度(データ結合),レビュー,ウォークスルー,インスペクション(モデレーター),ブラックボックステスト(同値分割,限界値分析),ホワイトボックステスト(命令網羅,判定条件網羅(分岐網羅),条件網羅,複数条件網羅),バグ管理図(信頼度成長曲線),バグ埋込み法(エラー埋込法),静的解析ツール,動的解析ツール(アサーションチェック),ソフトウェア結合テスト,ボトムアップテスト(ドライバ),トップダウンテスト(スタブ),状態遷移テスト,システム適格性確認テスト,ストレステスト,アプリケーションの保守,WOL(Wake on LAN),リグレッションテストについて,理解度を確認することができます。解けなかった問題や,完全に理解できていない問題については,【参考】にあるリンク先ページを読んで,もう一度,解いてみてください。難しい問題もあると思いますが,繰り返し解くことにより,だんだんと身に付いてきますので,根気よく頑張りましょう。